Urządzenie pozwala na uzyskiwanie w krótkim czasie najwyższej jakości obrazów elektronowych o powiększeniach do 150 000 x oraz realnej rozdzielczości poniżej 8 nm. Dzięki spektrometrowi EDS (typu SDD) mikroskop posiada możliwość analizy pierwiastkowej badanych materiałów.

Phenom ProX służy do badania morfologii i składu szerokiej gamy materiałów, w tym tkanek, kompozytów, powłok, materiałów porowatych.

Próbki mieszczące się na uchwycie mikroskopowym, o wymiarach do 25x25mm podlegają analizie nieniszczącej, natomiast próbki o większych wymiarach należy przyciąć do odpowiednich rozmiarów.

Charakterystyka skaningowego mikroskopu elektronowego Phenom ProX:

• powiększenie: do 150 000x;
• długi czas życia źródła elektronów (nawet 1500 godzin);
• źródło elektronów zoptymalizowane pod kątem możliwości osiągania wysokich rozdzielczości – 10 nm dla detektora BSE, 8 nm dla detektora SE;
• katoda CeB6 pracująca z napięciem przyspieszającym 5kV, 10kV i 15kV – polepszenie rozdzielczości (regulacja co 0,1kV w zakresie 4,8kV – 15kV);
• detektor elektronów wstecznie rozproszonych, z możliwością pracy w dwóch trybach:
  • podstawowym,
  • topograficznym;
• możliwość archiwizacji obrazów w następujących formatach: TIFF, JPEG, BMP;
• zintegrowany spektrometr EDS umożliwia analizę pierwiastkową składu chemicznego;
• czas niezbędny do uzyskania obrazu:
  • optycznego: 5 s,
  • elektronowego: 30 s.

Phenom ProX [https://pik-instruments.pl/]